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環(huán)境試驗設(shè)備的檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)比較
在前文提到的三類檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)中，有許多的不統(tǒng)一的地方，造成在環(huán)境試驗設(shè)備檢測和校準(zhǔn)過程中，同樣的檢測與校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，依據(jù)不同的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出不同的結(jié)論，有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出合格的結(jié)論，而有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出相反的不合格結(jié)論。
不同處一：溫度偏差計算方法的不同
①在ＧＢ／Ｔ５１７０．２．１９９６《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》中８．１．２條溫度偏差計算 方法是這樣規(guī)定的：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量 點的實測最高溫度（Tmax)、最低溫度（Tmin）與標(biāo)稱溫度(TN)的上下偏差，即為設(shè)備在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。計算公式如下：
式中：
②而在ＪＪＦｌｌ０１—２００３《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校規(guī)范》中６．３．１條溫度偏差計算方法是這樣規(guī)定的：△td=td-t0；
式中
③在ＧＢｌｌｌ５８—１９８９《高溫試驗箱技術(shù)條件》、ＧＢｌ０５８９—１９８９《低溫試驗箱技術(shù)條件》、ＧＢｌ０５９２—１９８９《高低溫試驗箱技術(shù)條件》、ＧＢｌ０５８６—１９８９《濕熱試驗箱技術(shù)條件》、ＧＢｌ０５８７—１９８９《鹽霧試驗箱技術(shù)條件》中溫度偏差計算方法是這樣規(guī)定的：在工作空間中心測試點的溫度第一達(dá)到測試溫度并穩(wěn)定２ｈ后，每隔２ｍｉｎ測試所有點的溫度１次，在３０ｍｉｎ內(nèi)共測１５次，隔３０ｍｉｎ在測１次，以后每隔１ｈ測試１次，共測２４ｈ。利用２４ｈ的測試數(shù)據(jù)，分別算出 最高、最低溫度與該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。
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例如在一臺環(huán)境試驗設(shè)備檢測中，標(biāo)稱溫度為１００℃，工作空間各測量點的實測最高溫度為１０２．５℃、最低溫度１０１．０℃，中心點溫度１０１．８℃，設(shè)備顯示溫度１００℃。按ＪＪＦｌｌ０１—２００３《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》中溫度偏差計算方法計算：溫度下偏差△td=100—１０１．８＝－１．８＜±２℃，判為合格。可是按ＧＢ／Ｔ５１７０．２．１９９６《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》中溫度偏差計算方法計算：溫度偏差△Tmin＝１０１．Ｏ一１００＝１．０＜±２℃，溫度上偏差△Tmax＝１０２．５—１００＝２．５℃＞±２℃，卻判為不合格。由上可見，三類檢測與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中溫度偏差計算方法的不同，會得出不同的結(jié)論來。
本篇： 環(huán)境試驗設(shè)備的檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)比較
作者： 王國建， 王宜龍
整理編輯：南京炯雷儀器設(shè)備有限公司
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